ケストレル・エリート工具顕微鏡
ケストレル・エリート測定顕微鏡
直観的な操作で定評のあるデータ処理装置
ケストレル・エリート測定顕微鏡PCモニタで
ケストレル・エリート光学測定顕微鏡
工具顕微鏡

ケストレルエリート

ケストレル・エリートは、量産からエンジニアリングまで、複雑な精密部品を簡単かつ正確に測定できる高精度測定顕微鏡です。

  • 測定ステージ 200mm x 100mm
  • 直観的な設計で高精度測定を実現
  • 優れた繰返・再現精度
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ケストレル - エリートは、高精度の光学測定及び検査機能を低価格で実現したハイパフォーマンス測定顕微鏡です。

複雑な形状の部品、透明なプラスチック等のエッジの検出は困難を極めます。ケストレル・エリートは特許取得済み光学ビューイングヘッドを搭載し、高解像の優れた光学イメージで容易なエッジ検出と高精度測定を行うことができます。

ケストレル・エリートは、堅牢な設計で直観的に簡単な操作で高精度測定が行え、製造現場に最適な測定顕微鏡です。

特長

  • 複雑な小型部品の 2 次元測定に最適
  • 特許取得の高解像・高コントラストの光学イメージでエッジ検出が容易。
  • 200m x 100mm高精度測定ステージ
  • 堅牢なマイクロプロセッサまたはPCソフトウェアで使用することができます
  • EUにて製造

測定・検査の向上

ケストレル・エリートは、手間のかかる測定・検査工程の効率化を図るための最適なソリューションです。

ヴィジョン・エンジニアリングは、エルゴノミック光学テクノロジーに関する数々の特許を保有しています。 ケストレル・エリートの特許取得ダイナスコープ™ テクノロジーは、コントラストの低い見づらいエッジでも簡単に検出することができ、測定の正確性や生産性の向上に貢献します。

また高解像の光学イメージは、目視検査にもご使用いただけます。

ダイナスコープ™ アイピースレス技術とは?

ケストレル・エリートには、ヴィジョン・エンジニアリングの特許取得 ダイナスコープ™ 光学テクノロジー採用されています。 ダイナスコープ™ は、従来の顕微鏡のような接眼レンズを必要としない全く新しいコンセプトで高解像の光学イメージを提供します。

黒地に黒? 白地に白? 透明な被検物? 投影機や画像測定システムでははっきり見えないエッジでも容易に検出ができ、簡単かつ正確に測定することができます。

ケストレル・エリートは、手間のかかる測定・検査工程の効率化を図るための最適なソリューションです。

簡単な操作 堅牢 高精度

ケストレル・エリートには、製造現場からのニーズに対応できるよう設計された 200mm x 100mm 高精度測定ステージが搭載されています。

測定ステージは、工場出荷時において非線形誤差補正 (NLEC) により校正され、国際標準 ISO9000 のトレーサビリティーに認証されています。

コンパクトに設計されたケストレル・エリートは、広いスペースも必要なく、簡単に設置することができます。

See it、Measure it... …

ケストレル・エリートには、ヴィジョン・エンジニアリングが特許を保有する数々のエルゴノミック光学テクノロジーが採用されています。

ケストレル・エリートは特許取得済のダイナスコープ™ 光学ヘッドを搭載し、見づらいコントラストの低いエッジでも簡単に検出することができ、高精度測定が可能となります。

幅広いアプリケーション.

ヴィジョン・エンジニアリングのケストレル・エリート非接触測定システムは様々なアプリケーションでお使いいただいています。

  • プラスチック部品 (コネクタ、チューブ、樹脂成形など)
  • 医療部品(ステント、補聴器など)
  • 航空機部品
  • 自動車および軍需産業
  • 精密加工部品
  • 時計製造

...その他様々な用途。

NLECで校正された測定ステージ

非線形誤差補正 (NLEC) は、最も正確な誤差補正方式と言われ、測定ステージ全面の固定誤差をアルゴリズムソフトにより計算し補正します。 全ての測定ステージは工場出荷時において、NLECにより校正されます。

データ処理とレポートティング

データ処理装置は量産現場での使用を考慮し堅牢なボディを持つND122と次世代測定ソフトウェアを搭載したタッチパネルタブレットPCから選択できます。

直感的なPCソフトウェア

直感的なPCソフトウェア

タッチパネル PC には、次世代測定ソフトウェアに加え各種レポート作成機能やネットワーク機能がサポートされています。

コアとなる測定ソフトウェアは直観的に設計され、誰にでも簡単に高精度測定が可能となり、生産現場からエンジニアリング部門まで幅広くお使いいただけます。

M3 ソフトウェアの詳細

堅牢なデータ処理装置

堅牢・高耐久のデータ処理装置は量産現場での使用に最適。シンプルな操作画面で操作ミスを低減。

ND 122 データ処理装置の詳細»

製品の詳細につきましては、最寄りのヴィジョン・エンジニアリング代理店にお問い合わせください。

測定ステージ

  • 標準で非線形エラー補正 (NLEC) キャリブレーションが工場出荷時点で設定されている精密測定ステージ。
  • Stage accuracy 5μm

測定ステージサイズ

(X, Y)

  • 200mm x 100mm ( 最大荷重10kg)*

* 150mm x 100mm measuring stage also available.

(Z)

  •  98mm*

    高さ調節

    100mm

    エンコーダ分解能

    X = 1µm   Y = 1µm   Z=1µm (3軸変形のみ.)

    光学系

    クロスライン レチクル搭載の双眼無限遠補正光学システム(特許取得)

    • カスタムデザインのレチクル(オプション)

    総合倍率

    • 10 倍、20 倍(標準)、50 倍、100 倍

    照明

    スポットランプ、または度 LED リング照明

    • 反射・透過 照度調整機能
    • 透過照明はプロファイル測定、反射照明は表面形状の測定に有効です。

    外形寸法

    Kestrel Elite 外形寸法
    • A = 680mm max.
    • B = 430mm (ステージ: 150mm x100mm)
    • B = 510mm (ステージ: 200mm x100mm)
    • C = 480mm

    アクセサリー

    • 対物レンズ x 1、総合倍率 10 倍 (KE-007)
    • 対物レンズ x 2、総合倍率 20 倍 (KE-008)
    • 対物レンズ x 5、総合倍率 50 倍 (KE-009)
    • 対物レンズ x 10、総合倍率 100 倍 (KE-010)
    • ツインハロゲンスポット照明 (KE-011)
    • カスタムデザインレチクル
    • 透過照明用カラーフィルター

    用途

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    ユーザーの声

    I can tell you from my background of more than 30 years in quality, that the Kestrel unit is one of the best devices I’ve ever used.” Donald D, ATL President

    製品についてのお問い合わせは:045-935-1117

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