ホークデュオ ビデオ画像測定顕微鏡
ホークデュオ 画像測定顕微鏡
ホークデュオ ビデオ画像測定顕微鏡
ホークマイクロ対物レンズ x100倍,  x200倍, x500倍
ホーク LED 照明コントローラ
デュアル光学 & ビデオ測定顕微鏡

ホークデュオ

究極の品質と柔軟性が求められる測定ニーズに! ホークデュオは、画像測定システムと光学測定顕微鏡の機能を1台の測定装置に統合した唯一のシステムです。 ワークの特性により画像測定と光学測定を自由に切換え、最適なテクノロジーで高精度測定ができるフラッグシップシステムです。

  • 最大測定範囲 400mm x 300mm
  • 特許取得済みの Dynascope™ 光学技術を採用し、複雑でコントラストの低い対象物も確実に観察&高精度測定ができます。
  • インテグレートされた画像測定機能が究極の測定性能と柔軟性を実現します。
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ヴィジョン・エンジニアリングは、エルゴノミック測定顕微鏡にビデオ画像測定システムを統合することで、ホークデュオを生み出しました。

ホークデュオは、直感的で卓越した操作環境により生産現場や製造検査用として、ルーチン測定から複雑な精密部品まで、迅速かつ正確な測定システムとしてご提供致します。

ホークデュオは、高精度・高再現性の測定ソリューションをご提供します。 従来の測定機ではエッジ検出が難しい白や黒、透明などあらゆる材質の高精度加工された部品の測定を1 台のシステムで対応することができます。

特長

  • 3 軸 光学&ビデオ画像測定
  • 特許取得済みのアイピースレス光学ヘッドは鮮明な画像で測定部の輪郭を映し出すことができます。
  • 高解像のビデオ画像測定機能を搭載し、量産現場での測定作業を効率良く行うことができます。
  • 高精度測定ステージオプション
  • パワフルで直感的に操作できる PC ベースソフトウェア
  • 完全自動 CNC コントロールなど、幅広いシステム構成とオプション リンク

2 つの測定システムをを1 台に統合 - バーサタイルメジャーメント

なぜ「光学測定」と「画像測定」なのか? 「デュオ」の光学測定および画像測定技術は、両方測定技術の優位性を組合せ、1台のシステムであらゆる測定アプリケーションに対応できる測定ツールです。

ホークデュオは、最先端の高精度測定システムとして、厳しい要求にも対応できるパワフルで柔軟な測定ソリューションです。 測定ワークの観察状況に合わせ、自由に光学測定と画像測定機能を切り替えて測定することができます。

なぜ光学測定なのか?

正確な測定を行うためには、測定する対象物の輪郭を正確に設定する必要があります。 ホークデュオには、特許取得済みのアイピースレス測定顕微鏡が統合されているため、部品の画像を顕微鏡と同じように鮮明に映し出すことができます。

複雑な部品や見にくい部品なども詳細に観察することができるため、シンプルなワークはもとより、あらゆる部品を正確に測定することができます。 また、優れた顕微鏡画像により、鮮明な画像を用いて目視検査を実行することができます。

画像測定

ビデオ測定は、金属部品などエッジ検出が比較的容易なワークを自動エッジ検出機能を使い効率的に測定するアプリケーションに最適です。 高解像度ビデオカメラと「次世代マルチタッチ測定ソフトウェア」の組み合わせにより、ホークデュオはシンプルなワークから複雑な精密加工品まで幅広い部品を素早く簡単に測定することができます。

しかし、部品には様々な形状、色、材質のものがあります。 特に、白や黒、透明など様々な形状、色、テクスチャーのワークでは画像測定で自動エッジ検出が難しい場合があります。 ホークデュオがあれば、被検物の特徴に合わせて最適な技術を選択できます。 画像測定と光学顕微鏡測定機能をシームレスに切り替えることで、いつでも最適な測定手法で高精度且つ効率的な測定を行なうことができます。

ヴィジョン・エンジニアリング ホークシリーズ

ホークシリーズは、様々な測定アプリケーションに合わせ、豊富なオプション群を組合せてシステム構成をカスタマイズできる非接触測定システムです。

すべてのホークシステムには、ヴィジョン・エンジニアリングの特許取得済み Dynascope™ ビューイングヘッドが搭載されており、鮮明な画像を映し出し、簡単に正確な測定を行うことができます。

アプリケーションについてご質問がございますか?

測定アプリケーションにには実に様々なものがあります。 測定システムを選択される場合、アプリケーションに対応した最適な測定技術を選択することが非常に重要になります。

ぜひ、御社のアプリケーションについて、当社の測定専門家にご相談ください。

ホークデュオには、高解像度ビデオカメラとエルゴノミック光学系が一つのシステムに統合されており、ビデオ画像自動エッジ検出ツールによる効率的な画像測定と、 光学顕微鏡により高精度測定を併用し、アプリケーション毎に最適な測定技術を使用し高精度測定を行なうことができます。

ホークデュオは、精密加工部品の測定はもちろんのこと、 一般的な測定機では測定が困難な低コントラスト部品なども柔軟に測定することができ、同時に外観・目視検査も可能なシステムとして、多くのお客様にお選びいただいています。

ホークの優位性

ヴィジョン・エンジニアリングは、光学およびエルゴノミック技術において、世界で数多くの特許を取得しています。

ホークデュオの特許取得済みダイナスコープ「Dynascope™」技術を使用すれば、複雑でコントラストの低い被検物でも、確実に観察することができるため、コストを削減しながら測定の正確性や生産性を向上させることができます。

黒地に黒? 白地に白? 透明な測定ワーク? 画像測定システムでは測定エッジが不明瞭になる部分も詳細に観察することができるため、簡単に正確な測定を行うことができます。

光学とビデオ測定という 2 つの技術を組み合わせたホークデュオは、以下のようなアプリケーションに最適です。

  • 例えば、 色付きのプラスチックなど、測定エッジのコントラストが不明瞭な部品の測定。
  • 医療用部品など、 ルーチン測定と高精度測定を同時に効率良く測定する場合
  • ワンオフ部品や試作品など一度限りの測定を効率良く高精度測定する場合

ダイナスコープ「Dynascope™」技術の概要

Dynascope™ 技術は、従来の顕微鏡のアイピースの必要性を排除するため、ユーザは被検物を確実に捉えることができます。 ホークデュオは、純粋な光学顕微鏡機能を搭載しています。 エルゴノミックアイピースレスビューイングヘッドを介して、観察者は高品位・高解像、高色再現性の画像を観察することができます。

測定システム用 ダイナスコープ「Dynascope™」 光学系では、2 つのMono光学パスを 1 つのフィールドレンズ(観察レンズ) に結像する仕組みになっています。 このように光径が拡張された光をフィールドレンズを通して観察できることで、ユーザーは観察の為にレンズに正確に目を合わせる必要が無く、楽に観察し、測定ポイントの入力を正確に行なえるということです。
詳細...

「次世代」マルチタッチ測定ソフトウェア

ホークには、「次世代」のマルチタッチ測定ソフトウェアが搭載されています。「touch-to-measure」技術により、ホークデュオの直感的で使いやすく覚えやすい操作性が実現しています。

「Touch-to-measure」機能は、従来のマウス操作に加え、「ピンチ」、「スワイプ」などスマートフォンでお馴染みの操作で簡単に測定機能を操作できる機能です。 さらに、測定部位を指でなぞることで簡単に測定エッジの選択・設定を行うことができます。

また、Windows 7 ベースのオペレーティングシステムにより、Microsoft Excel (別売り) などのアプリケーションと簡単に統合したり、ネットワークプリンタに接続したりすることもできます。

NLEC 搭載測定ステージキャリブレーション

ホークデュオには、豊富な高性能測定ステージオプションが揃っています、 最大400mm x 300mm までの測定範囲に対応します。

すべての測定ステージは、工場出荷時点で非線形エラー補正 (NLEC) により校正されています。 また、ISO9000等の品質規格に適合し、国際相互承認協定(MRA)を通じて国家計量標準(NMS)の国際標準トレーサビリティに認証されています。

分解能 0.5µm の高精度エンコーダを搭載しすることで、最高 2µm* の再現性を実現し、高精度で確実な測定結果を手に入れることができます。

* 200mm x 150mm の測定ステージ (システム倍率 200 倍、管理条件下)

ステージ オプション
150 x 150mm 200 x 150mm 300 x 225mm 400 x 300mm
  200 x 150mm CNC    

システム オプション

ホークデュオ非接触測定システムはモジュール方式により測定アプリケーション合わせて豊富なオプションラインアップから任意の機能を組合せシステム構築することが可能です。

落射照明
落射照明

明白色マルチポイント LED リングライト、 被検物に均一な影のない照明を当てます。

ほとんどの測定用途に使用されます。

明視野同軸照明
EPI 「スルーザレンズ」(TTL) 同軸照明

EPI 「スルーザレンズ」(TTL) 同軸照明、 対物レンズを介して光を投影する同軸照明です。

特に高倍率で、測定物の表面が平らで高反射の場合や、深い穴の底部を測定・観察する場合に使用します。 マイクロ対物レンズには明視野照明が必要になります。

サブステージ透過照明
サブステージ透過照明

サブステージ照明は、投影画像のように輪郭を鮮明にする場合や部品の穴を通しての観察、半透明部品の特定部分をハイライトしたりする際に使用することができます。

サムホイールアイリスを使うと、サブステージ照明を調節して、輪郭をより鮮明に映し出すことができます。

カラーフィルター

輪郭をより鮮明に映し出すことができるサブステージカラーフィルタ。

画像キャプチャ
イメージキャプチャ

キャプチャ画像の保存、処理、アーカイブなど、イメージングとドキュメント化の様々なマルチメディアソリューションを取り揃えています。

これまでになく簡単に測定・観察結果の情報を共有することができます。 不適合部品の画像をマークして、すぐに話し合いのためにメールで送信することもできます。

カスタムグラチクル

カスタム設計のプリセンタードグラチクル(目盛板)

対物レンズ
対物レンズ

豊富な対物レンズオプションが揃っています。 高絞り値マクロ対物レンズ、あるいは 4 タレットアレイとマイクロ対物レンズを素早く切り替えることができます。

マクロ対物レンズには被写界深度を調節するためのアイリス (絞り) が含まれています。

ホークデュオでは、以下の測定ソフトウェアをご選択頂けます。

M3 「touch 2 measure」 測定ソフトウェア

ホークデュオには、「次世代」のマルチタッチ測定ソフトウェア」が搭載されています。 「touch-to-measure」技術は直感的な簡単操作で高精度測定ができ、長時間の操作トレーニンを必要としません。

「Touch-to-measure」機能は、従来のマウス操作に加え、「ピンチ、スワイプ」などスマートフォンの操作でお馴染みの動作で画面操作し、簡単に測定を行なうことができるものです。 さらに、測定部位の形状を指でなぞることで自動的にエッジ検出し測定をすることもできます。

測定に必要な全ての機能がアイコンベースの操作環境で提供されており、作業者は測定プログラム作成を意識することなく、任意の測定を実行することができます。 また、Windows 7 ベースのオペレーティングシステムにより、Microsoft Excel (別売り) などのアプリケーションと簡単に統合したり、ネットワークプリンタに接続したりすることもできます。

  • シンプルかつパワフルな測定
  • タッチスクリーン操作
  • 煩雑な操作や選択を必要とする多階層のメニューオプションはありません、全てを直感的に操作することができます。
  • CADのようなパートビュー表示画面でワーク全体の測定データを簡単に確認したり、仮想線の挿入や追加測定やコメント挿入が簡単にできます。
  • クロスヘアから画像の自動エッジ検出まで、作業に合わせて使える様々な画像ツール
  • "DC" 直接比較オプションを使えば、 CAD データ .dxf インポート機能を使い、複雑な形状部品をビデオ画面上で比較確認してその後の工程に進めるべきかどうかを素早く判断することができます。

M3「touch 2 measure」測定ソフトウェア »の詳細

IK 5300 高度測定ソフトウェア (旧 QC-5000)

IK 5300 計測ソフトウェアは、高度な処理を必要とするパワーユーザ向け測定ソフトウエアです。

  • カスタムフォーミュラ、条件付きプログラミング、統計的工程管理 (SPC)、あるいは RUNS データベース (部品性能の長期的な追跡を行う) など、高度なソフトウェア機能をご利用いただけます。
  • 高度なデータのインポート、エクスポート、分析機能を備えた多機能機能バージョン

IK 5300 高度測定ソフトウェア »

具体的なご要望に関する詳しいご相談は、最寄りのヴィジョン・エンジニアリング事務所、もしくは代理店にお問い合わせください。

光学系

特許取得済みの双瞳単焦点 Dynascope™ 無限遠補正光学システム & 両眼用のプリセンタードクロスライングラチクル

ビデオ

高解像度カラー CCD ビデオカメラ

倍率オプション (システム総合)

対物マクロレンズ、及び マイクロレンズ

単焦点対物マクロレンズには被写界深度/視野径を調節するためのアイリス (絞り) が装備されています。 マイクロ対物レンズには、4 タレットアレイが装備されています。

マクロ対物レンズ
対物レンズ 総合倍率 ワーキングディスタンス 視野径 (mm Ø) 被写界深度
x1 倍 10 倍 84mm 14.2mm 270µm
x2 倍 x20 倍 81mm 7.1mm 67µm
x5 倍 x50 倍 61mm 2.8mm 10µm
x10 倍 x100 倍 32mm 1.4mm 6µm
マイクロ対物レンズ (標準的な作業距離)
対物レンズ 総合倍率 ワーキングディスタンス 視野径 (mm Ø) 被写界深度
x5 倍 50 倍 20mm 4.4mm 12.22µm
x10 倍 x100 倍 10.1mm 2.2mm 3.06µm
x20 倍 x200 倍 3.1mm 1.1mm 1.3µm
x50 倍 x500 倍 0.66mm 0.44mm 0.43µm
マイクロ対物レンズ (ロング ワーキングディスタンス)
対物レンズ 総合倍率 ワーキングディスタンス 視野径 (mm Ø) 被写界深度
x10 倍 x100 倍 21mm 2.2mm 4.4µm
x20 倍 x200 倍 12mm 1.1mm 1.72µm
x50 倍 x500 倍 10.6mm 0.44mm 1.10µm
x100 倍 x1000 倍 3.4mm 0.22mm 0.43µm
マイクロ対物レンズ (スーパー ロング ワーキングディスタンス)
対物レンズ 総合倍率 ワーキングディスタンス 視野径 (mm Ø) 被写界深度
x20 倍 x200 倍 21mm 1.1mm 2.24µm

ソフトウェア

  • M3 計測ソフトウェア
  • IK 5300 計測ソフトウェア

アクセサリー

  • サブステージカラーフィルター (横向きまたは裏向きの部品の鮮明度を高めます)

システム詳細

測定ステージ
測定範囲 (X,Y) 150mm x 150mm
測定範囲 (Z) 202mm (最大 244mm)*
測定精度 U952D = 4+(5.5L/1000)µm•
ステージ再現性
(X)
(Y)
(Z)
 
0.004mm
0.004mm
0.004mm**
エンコーダ再現性
(X)
(Y)
(Z)
 
0.001mm
0.001mm
0.0005mm
自動
ステージ動作 マニュアル
照明オプション
落射照明 プログラム調光可能な白色・四分割 LED リングライト
明視野EPI 照明 プログラム調光可能な LED 明視野EPI 照明 投影光スルーザレンズ (TTL) 照明 マイクロ対物レンズには明視野EPI 照明が必要になります。
サブステージ透過照明 プログラム調光可能な LED サブステージ透過照明。 輪郭を鮮明に映し出すためのアイリス (絞り) が含まれています。
外形寸法
幅 x 奥行き x 高さ 540mm x 700mm x 780mm

 

測定ステージ
測定範囲 (X,Y) 200mm x 150mm 200mm x 150mm CNC
測定範囲 (Z) 202mm (最大 244mm)* 202mm (最大 244mm)*
測定精度 U952D = 2+(4.5L/1000)µm• U952D = 2+(4.5L/1000)µm
ステージ再現性
(X)
(Y)
(Z)
 
0.002mm
0.002mm
0.004mm**
 
0.002mm
0.002mm
0.004mm**
エンコーダ分解能
(X)
(Y)
(Z)
 
0.0005mm
0.0005mm
0.0005mm
 
0.0005mm
0.0005mm
0.0005mm
自動
ステージ動作 マニュアル CNC 自動ステージ
照明オプション
落射照明 プログラム調光可能な白色・四分割 LED リングライト
明視野EPI 照明 プログラム調光可能な LED 明視野EPI 照明 投影光スルーザレンズ (TTL) 照明
マイクロ対物レンズには明視野EPI 照明が必要になります。
サブステージ透過照明 プログラム調光可能な LED サブステージ透過照明 輪郭を鮮明に映し出すためのアイリス (絞り) が含まれています。
外形寸法
幅 x 奥行き x 高さ 750mm x 700mm x 780mm

 

測定ステージ
測定範囲 (X,Y) 300mm x 225mm
測定範囲 (Z) 89mm (最大)*
測定精度 U952D = 15+(6.5L/1000)µm
ステージ再現性
(X)
(Y)
(Z)
 
0.010mm
0.010mm
0.010mm**
エンコーダ解像度
(X)
(Y)
(Z)
 
0.001mm
0.001mm
0.001mm
自動
ステージ動作 マニュアル
照明オプション
落射照明 明白色 LED リングライト
明視野EPI 照明 明視野EPI 照明 投影光スルーザレンズ (TTL) 照明 マイクロ対物レンズには明視野EPI照明が必要になります。
サブステージ透過照明 サブステージ透過照明 輪郭を鮮明に映し出すためのアイリス (絞り) が含まれています。
外形寸法
幅 x 奥行き x 高さ 1100mm x 980mm x 700mm

 

測定ステージ
測定範囲 (X,Y) 400mm x 300mm
測定範囲 (Z) 89mm (最大)*
測定精度 U952D = 15+(8.5L/1000)µm
ステージ再現性
(X)
(Y)
(Z)
 
0.010mm
0.010mm
0.010mm**
エンコーダ分解能
(X)
(Y)
(Z)
 
0.001mm
0.001mm
0.001mm
自動
ステージ動作 マニュアル
照明オプション
落射照明 明白色 LED リングライト。
明視野同軸照明 明視野同軸照明。 投影光スルーザレンズ (TTL)照明 マイクロ対物レンズには明視野EPI同軸照明が必要になります。
サブステージ透過照明 サブステージ透過照明 輪郭を鮮明に映し出すためのアイリス (絞り) が含まれています。
外形寸法
幅 x 奥行き x 高さ 1200mm x 1020mm x 700mm

 

* 構成によって異なります。
** 10x マクロレンズ (システム倍率 100 倍) を使用した場合。

 

L = 測定長 (単位:mm) (システム倍率 200 倍、管理条件下)。

測定ステージのキャリブレーション

すべての高精度測定ステージは、工場出荷時点で非線形エラー補正 (NLEC) により校正されています。

用途

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